樟蔭美科学研究所 Shoin Beauty Science Center

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第5回 コスメ道場
第3回 評価道場:皮膚計測講座
皮膚計測の基礎をしっかり学んでみよう!

2024.03.01

皮膚計測は化粧品の効果を測定するためには欠かせません。
簡単にできそうで、実は簡単ではない皮膚計測を初歩から学んでいただくのが評価道場・皮膚計測講座。
皮膚表面水分量、TEWL、皮膚粘弾性、皮脂量などの測定だけでなく、画像解析による肌測定の原理と測り方をしっかり講義します。
今回は初めての東京開催です。定員に達しましたので申込は締め切らせていただきます。

共催 樟蔭美科学研究所 / 株式会社CIEL / コスメ道場事務局(株式会社ベルヴィーヌ)
対象者 皮膚計測初心者
しっかり基礎から学び直したい皮膚計測実務者
開催日 2024年3月29日(金)10時~17時 
開催方式 対面(実習含む) 
開催場所 DRC株式会社 東京評価センター
〒103-0016 東京都中央区日本橋小網町3-17 近仁ビル1階
https://drc-web.co.jp/access/
上記URL内の「東京評価センター」をご覧ください。
定員 10名程度
受講料 33,000円(税込)/ 1名
講師 ●岡野 由利 氏 株式会社CIEL 取締役 博士(薬学)
●井筒 ゆき子 氏 株式会社CIEL リサーチャー
●高野 雅史 氏 DRC株式会社 経営企画室 部長
●吉田 悠真 氏 DRC株式会社 化粧品・食品有用性試験グループ 課長
講義内容 午前中:講義 午後:実習
皮膚表面水分量、TEWL、セブメーター、キュートメータ―、そして現在広く活用されている顔画像診断装置VISIAを使いこなせるようになっていただきます。
・それぞれの機器の原理を学ぶ
・安定した測定値を出すためのコツを学ぶ
・各種機器の特徴と違いについて知る
協力 DRC株式会社 https://drc-web.co.jp/
お問合せ先 コスメ道場事務局 cosmedojo@bellevienus.co.jp